В центре установлен новый атомно-силовой микроскоп
Оборудование расширяет возможности характеризации материалов на наномасштабе.
18 июля 2026Оборудование расширяет возможности характеризации материалов на наномасштабе.
18 июля 2026Работы посвящены оптическим сенсорам и тонким полупроводниковым плёнкам.
10 июля 2026Мы переработали страницу, чтобы упростить доступ к публикациям и расписанию группы.
18 января 2026